エネルギー分散形蛍光Ｘ線分析装置
(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer)
- ・機器名
日本電子 JSX-3100RⅡ （平成 25 年度設置）
- ・ 概要
物質にＸ線を照射して二次的に発生した蛍光Ｘ線のエネルギーを強度として計測することにより、非破壊で粉末、液体、固体試料の定性定量分析を多元素同時に行う。
- ・ 仕様
検出元素範囲 |
: |
Na～U |
Ｘ線発生装置 |
: |
5～50kV , 1mA , 50W |
ターゲット |
: |
Rh |
一次フィルタ |
: |
４種類自動交換 |
コリメータ |
: |
1mmφ , 3mmφ , 7mmφ |
検出器 |
: |
液体窒素レス Si(Li)半導体検出器 |
試料室サイズ |
: |
300mmφ × 150mm(H) |
試料室雰囲気 |
: |
大気及び真空 |
試料観察機構 |
: |
カラーCCDカメラ |
分析ソフトウェア |
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バルクFP法、薄膜FP法、検量線法、RoHS分析 |
付属ｵﾌﾟｼｮﾝ |
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真空排気ユニット、16試料自動交換機構、Niメッキ分析ソフト、サムピーク除去ソフト |
・ 設置場所
１階114室
・ 使用資格
学部４年次以上及び教職員で、放射線従事登録者かつ取扱講習受講者
- ・ 留意事項
- ガラスバッチを着用すること。
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