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セミナー等資料
電子顕微鏡及び周辺機器
- JEM-2100F (Transmission Electron Microscope / 透過型電子顕微鏡)
- 電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000）
１．試料について＆注意事項（69KB、全2ページ、最終改訂2019. 2. 4）
Specimens and Precautions（English edition,90KB,All 2 pages,Final revision:February 21,2020）
２．FE-SEMの使い方（196KB、全3ページ、最終改訂2022.2.22）
How to use FE-SEM(SU8000)（English edition,128KB,All 3 pages,Final revision:February 2,2022）
３．SU8000簡易マニュアル（3.3MB、全2ページ、最終改訂2011. 4.7）
４．EDX操作マニュアル抜粋（2.1MB、全16ページ、最終改訂2013.4.1）
５．SU8000画面構成図（849KB、全1ページ、最終改訂2020.6.11）
- 低真空走査電子顕微鏡（SU3500）
１．低真空ＳＥＭの使い方（398KB、全9ページ、最終改訂2020. 2.19）
How to Use Low Vacuum SEM（English edition,293KB,All 9 pages,Final revision:February 19,2020）
２．SU3500簡易マニュアル（6MB、全15ページ、最終改訂2014.7.28）
３．SU3500画面構成図（1.1MB、全1ページ、最終改訂2020.6.17）
４．SU3500EDSスペクトラムタブ画面構成図（233KB、全1ページ、最終改訂2020.6.17）
５．SU3500EDSマップライン画面構成図（400KB、全1ページ、最終改訂2020.6.17）
- 走査型電子顕微鏡(JSM-IT100)
１．JSM-IT100簡易マニュアル（5.8MB、全34ページ、最終改訂2020.7.21）
２．JSM-IT100像分解能にかかわる要因（388KB、全1ページ、最終改訂2020.6.17）
- Quanta200 3D (Focused Ion Beam / 集束イオンビーム加工装置)
- フラットミリング(IM-3000)（654KB、全2ページ）
- オスミウムコーター(Neoc-STB)（233KB、全1ページ、最終改訂2024. 1.23）
X線分析機器
- Ｘ線回折装置(SmartLab)
１．SmartLab始動停止操作（222KB、全1ページ、最終改訂2022. 3.25）
SmartLab Start･stop Operation（English edition,224KB,All 2 pages,Final revision:March 25,2022）
２．SmartLab光学系説明図（2345KB、全12ページ、最終改訂2022. 3.30）
- 強力Ｘ線回折装置(RINT-2500)
１．強力Ｘ線回折装置(RINT-2500)始動停止（239KB、全2ページ、最終改訂2024. 1.26）
XRD(RINT-2500)start and stop method （English edition,183KB,All 3 pages,Final revision:February 21,2020）
２．測定・定性分析（1418KB、全14ページ、最終改訂2024. 3. 12）
Simplified Procedures for Measurement and Qualitative Analysis
（English edition,2514KB,All 14 pages,Final revision:April 8,2024）
表面分析機器
分光分析機器
- 液体NMR測定マニュアル（1,085KB、全8ページ、最終改訂2019.5.31）
NMR in Liquids Instructions (Simplified version)（1,195KB、All 6 pages） - 固体NMR測定マニュアル（1,270KB、全9ページ、最終改訂2019.5.31）
NMR in Solids Instructions (Simplified version)（1,080KB、All 7 pages） - 紫外可視分光光度計（338KB、全3ページ、最終改訂2006.4.3）
- 蛍光分光光度計測定マニュアル（476KB、全8ページ、最終改訂2019.5.31）
