(1) リガク SmartLab (令和3年度設置)
結晶性物質に特定の波長のX線を入射させると、物質内の原子や分子の規則的な配列構造に基づき、特有の角度に回折あるいは散乱X線を生ずる。これを測定し記録することにより、未知試料の同定や結晶構造を知る。
SmartLab
X線発生部 |
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定格出力 |
: |
3kW |
安定度 |
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±0.01%以内 |
ターゲット |
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Cu(通常)、Co |
ゴニオメータ |
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型式 |
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試料水平θ/θ型 |
半径 |
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300mm |
角度再現性 |
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1/10000以下° |
X線単色化方法 |
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多層膜ミラー、2結晶モノクロメータ |
検出器 |
: |
2次元半導体検出器 |
測定手法 |
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θ(ω)-2θ,ロッキングカーブ,逆格子マップ,X線反射率,全極点図,応力,微小部, インプレーン回折,小角散乱 |
(1) SmartLab |
: |
1階 118室 |
・ 使用資格
放射線従事登録者で、学部4年次以上及び教職員
本装置については、取扱講習の受講を必須事項としておりません(放射線従事登録時に指導教員のもと教育訓練実習を既に受けているため)。