
アルバック・ファイ株式会社 PHI Quantera SXM-CI (平成22 年度設置)
試料にX線を照射し、試料表面から放出される光電子のエネルギーを測定することにより表面の組成並びに化学結合状態に関する情報を得る手法です。
| X線光学系 | ||
| ビーム径 | : | 最小9μm~200μm | 
| 最高エネルギー分解能 | : | 0.49eV以下(Ag3d 5/2) | 
| 最大感度 | : | 3,000,000cps(Ag3d 5/2の半値幅1.3evのとき | 
| 到達圧力 | : | 6.7×10-8Pa以下 | 
1階 122室