透過型電子顕微鏡
(TEM：Transmission Electron Microscope)
・機器名
(1) 日本電子JEM-2100F, EDX部: JED−2300T （平成20年度設置）
(2) 日本電子JEM-1400Plus, EDX部: ドライSD30GV検出器 （平成25年度設置）
・概要
高電圧で加速された電子線を利用し、材料の極微小部の詳細な観察を行う。分析材料物性の研究（半導体材料、金属材料、セラミックス等）に利用。
・仕様
JEM-2100F
分解能 |
: |
2.04Å（格子像），4.5Å（粒子像） |
加速電圧 |
: |
35 kV ～ 200 kV |
倍率 |
: |
x100 ～ x600,000 |
分析可能元素 |
: |
Na 〜 U |
JEM-1400Plus
分解能 |
: |
0.2 nm（格子像），0.38 nm（粒子像） |
加速電圧 |
: |
120 kV |
倍率 |
: |
x10 ～ x1,200,000 (TEM) |
x120 ～ x2,000,000 (STEM) |
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分析可能元素 |
: |
B 〜 U |
・設置場所
(1) JEM-2100F |
: |
1階 110室 |
(2) JEM-1400Plus |
: |
1階 114室 |
・使用資格
放射線従事登録者で、利用者講習会受講者、JEM-1400Plusは学部4年以上の者、JEM-2100Fは博士前期1年以上で透過電子顕微鏡の使用経験が1年以上の者
・留意事項
ガラスバッチを着用すること。
JEM-2100F |
JEM-1400Plus |
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