島津製作所 SALD-2300 (平成 29 年度設置)
試料にレーザ光を照射し、回折・散乱光の強度分布パターンから 粒度分布を求める分析装置。
測定原理 |
: |
レーザ回折・散乱法 |
測定範囲 |
: | 17nm(0.017μm)~ 400μm(回分セル使用時) |
30nm(0.030μm)~ 280μm(高濃度測定ユニット使用時) |
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300nm(0.3μm)~ 2500μm(乾式測定ユニット使用時) |
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アタッチメント |
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回分セル、高濃度測定ユニット、乾式測定ユニット |
1階 107室
学部4年次以上及び教職員で、ビデオ講習受講者(ビデオ講習の問い合わせはlecture@crfc.tut.ac.jpまで)
*必ず事前に取扱いビデオを見て操作方法を学び、注意事項を守って使用すること。 分からない場合には、スタッフに聞いてください。