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共同利用分析機器ガイダンス
| 実施日時 | 実施場所 | 講 師 | 受講対象学生 | 定員 | 内容 | 備考 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 5月7日（水）18：00～ | A1-101 | 中野 教授 加藤亮 助教 |
学部4年以上の者 | 人数 制限なし |
講義 | 申込 不要 |
共同利用機器取扱講習会
受講希望者は各系の技術創成研究機構委員会委員（下記）へ申し込んで下さい。
申込方法・期限については、委員から連絡されます。
1系・中村祐二准教授 2系・石山 武准教授 3系・堀川順生教授 4系・吉田絵里准教授 5系・中澤祥二教授
総合教育院・加藤三保子教授
★講習会の内容に関しては、研究基盤センターへお問い合わせください。 【問い合わせアドレス：lecture@crfc.tut.ac.jp】
★系・総合教育院に属さない方で受講希望がある場合は、研究基盤センターへお問い合わせください。
【問い合わせアドレス：lecture@crfc.tut.ac.jp】
- 【分析支援部門】
講習する機器名称他 実施日時 実施場所 講 師 受講対象学生 定員 内容 事前
申込ユーザーズセミナー
電子顕微鏡(SEM・TEM)技術
―基本原理から解析事例で―
8月6日（水）
13：00～14：30センタ−
3階
セミナー室中野 教授 学部4年以上
の者人数
制限なし講義 不要 3次元透過型電子顕微鏡
TEM：Transmission
Electron Microscope 日本電子
JEM-2100Ｆ、3D-TEM研究室単位
で日程調整110室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上で透過電子顕微鏡の使用経験が1年以上で放射線従事登録者 各3名 実習 要 透過型電子顕微鏡
TEM：Transmission
Electron Microscope 日本電子 JEM-2010、
超高分解能電子顕微鏡研究室単位
で日程調整107室 村本 技術
専門職員学部4年以上で放射線従事登録者 6名 実習 要 低加速電圧
透過型電子顕微鏡
TEM：Transmission
Electron Microscope日本電子 JEM-1400Plus6月2日（月）
13：00～17：00114室 齋藤 技術
専門職員学部4年以上で放射線従事登録者 6名 実習 要 電界放出形走査電子
顕微鏡（FE-SEM）
Field Emission Scanning
Electron Microscope 日立ハイテクノロジーズ
SU8000 TypeⅡ6月13日（金）
13：00～17：00
6月20日（金）
13：00～17：00122室 河西 技術
専門職員博士前期1年以上で走査型電子顕微鏡の使用経験が1年以上の者 各10名 実習 要 走査型電子顕微鏡
SEM：Scanning
Electron Microscope 日本電子 JSM-63005月22日（木）
13：00～16：00
5月27日（火）
13：00～16：00114室 村本 技術
専門職員学部4年以上の者 各10名 実習 要 低真空走査電子顕微鏡
Low-vacuum Scanning
Electron Microscope日立 SU35005月23日（金）
13：00～17：00(予備日5/28)
124室 河西 技術
専門職員学部4年以上の者 10名 実習 要 ナノサーチ顕微鏡
LSM:Laser Scanning
Microscope
SPM:Scanning Probe
Microscope 島津 SFT-3500第1回(※1)LSM講習 6月12日（木）
10：30～12：00224室 加藤亮 助教 学部4年以上の者 12名
（各研究室
2名まで）実習 要 第2回(※1)SPM講習 6月12日（木）
13：00～15：00224室 加藤亮 助教 博士前期1年以上の者で第1回講習の受講者 5名
（各研究室
1名まで）実習 要 集束イオンビーム微細
加工装置（FIB）
FIB：Focused Ion Beam FEI Quanta 3D6月3日（火）
13：00～17：00107室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上の者 6名 実習 要 オージェ電子分光装置
AES：Auger Electron
Spectroscopy 日本電子 JAMP-7800研究室単位
で日程調整107室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上で走査型電子顕微鏡の使用経験が1年以上の者 6名 実習 要 （走査型）
X線光電子分光装置
XPS、ESCA アルバックファイ PHI
Quantera SXM-CI6月5日（木）
13：00～17：00
6月10日（火）
13：00～17：00122室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上で放射線従事登録者 6名 実習 要 強力X線回折装置
X-ray Diffractometer
with Rotating Anode
X-ray Generator 理学 RINT-2500第1回 7月9日（水）
13：00～17：00
第2回 7月10日（木）
13：00～17：00
第3回 7月11日（金）
13：00～17：00集合場所
117室河西 技術
専門職員学部4年以上で放射線従事登録者 各14名
（要ガラス
バッジ）実習 要 X線回折装置
XRD：X-ray Diffractometer 理学 RINT-2200（四軸型単結晶X線回折）
原子集合体構造解析装置
（4-axis）single crystal X-ray
diffractometer system 理学電機
RASA-7R/AFC-7R7月8日（火）
14：00～17：00
（時間は応相談）
117室 藤澤 助手 学部4年以上で放射線従事登録者 5名
（要ガラス
バッジ）実習 要 エネルギー分散形
蛍光Ｘ線分析装置
JSX-3100RⅡ
X-ray Fluorescence
Spectrometer日本電子6月4日（水）
13：00～17：00114室 齋藤 技術
専門職員学部4年以上で放射線従事登録者 8名
（要ガラス
バッジ）実習 要 固体核磁気共鳴装置
Solid-State Nuclear
Magnetic Resonance
Spectrometer ブルカー・バイオスピン株式会社
AVANCEⅢ 4005月30日（金）
10：30～12：00
溶液講習121室 加藤亮 助教 博士前期1年以上の者 10名 実習 要 5月30日（金）
13：30～15：00
固体講習121室 加藤亮 助教 博士前期1年以上の者 10名 実習 要 原子吸光分光装置
Atomic Absorption
Spectrometer 島津製作所 AA-6605月29日（木）
13：00～15:00224室 2系
服部敏明
准教授学部4年以上の者 10名 実習 要 (※1) 第1回LSM講習の未受講者は、第2回SPM講習を受講できません。
第1回 LSM講習 ： 光学顕微鏡、レーザー顕微鏡の利用法に関する講習
第2回 SPM講習 ： 走査プローブ顕微鏡の利用法に関する講習。
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- ・いずれの講習会も教職員は受講可能です。
- ・使用予定のない方の受講はご遠慮ください。
- ・事前に受講資料を複写していただく機器もあります。対象者には別途通知します。
- ・定員の都合上、希望者全員に受講していただけない場合があります。受講決定については、各講習会の1週間前までにメールにて連絡いたします。
- ・実施場所の部屋番号は、特に注記のない限り、研究基盤センター内の部屋番号を示します。センターマップはこちら
- ・当センターは特別管理区域に指定されておりますので、受講の際には学生証及び身分証明書を携帯して下さい。
