内 容 |
講 師 |
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| TEM/SEM による組織・構造解析の基礎と 応用 | 教育研究基盤センター 教授 中野 裕美 |
放射光を用いた分析方法 -XAFS 法の紹介、原理解説、事例 等の紹介- |
名古屋大学シンクロトロン光研究センター 教授 田渕 雅夫 氏 |
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2018年08月08日
ユーザーズセミナー SEM / TEM / XAFS 開催報告
平成30年8月8日に、ユーザーズセミナーSEM / TEM / XAFSを開催しました。
マクロ～ミクロまでの組織、構造、局所構造解析の手段として、
電子顕微鏡
（
SEM/TEM
）、
放射光を用いた分析方法(XAFS 法など)について、
本センター教授及び名古屋大学の先生をお招きして、
解析事例
をご紹介しながらわかりやすく解説していただきました。
学内の教職員・学生及び企業等の技術者・研究者など、合計48名の参加者がいらっしゃいました。
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