内 容 |
講 師 |
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| TEM/SEM による組織・構造解析、電子線回折の基礎と 応用 | 教育研究基盤センター 教授 中野 裕美 |
X 線、中性子、シンクロトロン光を 用いた回折法の基礎から応用まで |
東京工業大学理学院 化学系
エネルギーコース 教授 八島 正知 氏 |
2019年08月08日
ユーザーズセミナー 開催報告
令和元年8月8日(木)に、ユーザーズセミナーを開催しました。
ものづくりにおいて、材料の組織、構造、局所構造は、その材料の物性と
密接に関連するため、
より正確な材料の評価・解析が求められます。
そのため、得られた知見は、新しい材料設計をす
るための重要な指針となります。
今回、マクロ～ミクロまでの組織、構造、局所構造解析の手段として、
電子顕微鏡（TEM/SEM）、
電子線、X 線、中性子、シンクロトロン光を用いた回折法について、
わかりやすく解析事例をご
紹介しながら解説していただきました。
学内の教職員・学生及び企業等の技術者・研究者など、合計30名の参加者がいらっしゃいました。
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